堆码试验可靠性试验
更新时间:2024-08-23 07:00:00
价格:¥500/份
检测项目:可靠性认证
检测机构:可靠性检测机构
检测范围:可靠性测试
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详细介绍
堆码试验可靠性试验,环境试验基本采用极值条件,用严酷代替温和,即采用产品在寿命周期内可能遇到的Zui极端的环境条件作为试验条件。许多试验带有一定的破坏性且试验过程中一般不需模拟产品的工作状态。而可靠性试验采用实效试验,即真实地模拟贮存,运输,使用过程中遇到的主要环境条件及其动态变化过程。
深圳市环测威检测技术有限公司(Shenzhen CTB testing technology Co., LTD,英文简称“CTB” )是一家主要从事电子及电器产品安全(LVD)、电磁兼容(EMC)、重金属和有害物质分析测试和认证(RoHS、REACH、卤素和偶氮)以及无线电通讯认证测试机构。
可靠性试验,是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下,找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。
机械环境试验(GB2423,GJB150A,GJB4,IEC60068、GJB1032,GJB322A,GJB360A,GJB548,TB3058,GJB899、GB/T21563、ISO16750等)A.振动试验:正弦振动试验(扫频耐久试验)、随机振动试验、宽带随机振动试验,窄带随机振动试验,正弦+随机叠加试验;B.冲击试验:半正弦波机械冲击试验,后峰锯齿波冲击,冲击响应谱试验;C.其他试验:跌落试验(自由跌落,重复跌落)、碰撞试验、加速度试验等。堆码试验可靠性试验
低温储存试验:将样品放入低温箱,使箱温度降到-20℃,在受试样品不工作的条件下存放16h,取出样品回到室温,再恢复2h,加电运行测试程序进行Zui后检验,受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。为防止试验中受试样品结霜和凝露,允许将受试样品用聚薄膜密封后进行试验,必要时还可以在密封套内装吸潮剂。
深圳市环测威检测技术有限公司(Shenzhen CTB testing technology Co., LTD,英文简称“CTB” )是一家主要从事电子及电器产品安全(LVD)、电磁兼容(EMC)、重金属和有害物质分析测试和认证(RoHS、REACH、卤素和偶氮)以及无线电通讯认证测试机构。
可靠性试验,是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下,找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。
机械环境试验(GB2423,GJB150A,GJB4,IEC60068、GJB1032,GJB322A,GJB360A,GJB548,TB3058,GJB899、GB/T21563、ISO16750等)A.振动试验:正弦振动试验(扫频耐久试验)、随机振动试验、宽带随机振动试验,窄带随机振动试验,正弦+随机叠加试验;B.冲击试验:半正弦波机械冲击试验,后峰锯齿波冲击,冲击响应谱试验;C.其他试验:跌落试验(自由跌落,重复跌落)、碰撞试验、加速度试验等。堆码试验可靠性试验
可靠性试验按项目可分为环境试验、寿命试验、特殊试验和现场使用试验:
(1)可靠性环境试验
该项试验包括的项目较多,主要有:①气候条件,如温度、湿度、气压、风雪、盐雾、腐蚀性气体等,②机械条件,如振动、冲击、离心、碰撞、跌落、失重、噪声、冲击波等,③辐射条件,如太阳辐射,核辐射等。
(2)寿命试验
寿命试验是可靠性试验的一个极其重要的内容,通过这种试验,可以了解产品工作的寿命特征、失效规律,并算出产品失效率和平均寿命等可靠性指标。产品的寿命试验,按时间长短又可分为长期寿命试验和加速寿命试验。
(3)特殊试验
特殊试验就是用特殊的仪器对继电器进行试验和检查。这种试验不仅在可靠性试验中应用,而且在可靠性筛选试验中用得较多。如x射线检查、红外线检查、氦质谱检漏、放射性示踪检漏等。
(4)现场使用试验
现场试验的环境条件就是产品使用的实际条件。现场试验时样品可以多些、时间可长些。通过这项试验可以获得实用的统计数据,为改进和提高产品质量提供较准确的依据。
环测威检测机构有专门项目团队为您一对一指导。
堆码试验可靠性试验,机械类测试:振动测试 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 …;冲击测试 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 …;碰撞测试 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20;跌落测试 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 ;RCA纸带摩擦测试 ASTM F 2357;酒精,橡皮,铅笔摩擦测试 GB/T 6739 ASTM D 3363;
低温储存试验:将样品放入低温箱,使箱温度降到-20℃,在受试样品不工作的条件下存放16h,取出样品回到室温,再恢复2h,加电运行测试程序进行Zui后检验,受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。为防止试验中受试样品结霜和凝露,允许将受试样品用聚薄膜密封后进行试验,必要时还可以在密封套内装吸潮剂。
可靠性试验根据试验的地点、目的、项目、产品的开发阶段、施加应力的强度、试品的破坏情况以及抽样方案的不同而可分为若干类型。欢迎来电咨询CTB环测威检测机构工作人员,了解更多关于可靠性测试/试验办理详情!
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